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開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀常見(jiàn)故障及排除方法開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于高壓斷路器動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀時(shí)間基準(zhǔn)的校驗(yàn)和檢測(cè)，高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀的時(shí)間測(cè)量功能校驗(yàn)等相關(guān)應(yīng)用。開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀在使用過(guò)程中遇到常見(jiàn)故障應(yīng)該如何處理？一、故障現(xiàn)象設(shè)備連接成功后，開(kāi)始進(jìn)行合閘或...

變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置的五種試驗(yàn)接線方法變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置可以進(jìn)行各種交流耐壓試驗(yàn)，包括GIS耐壓試驗(yàn)、電纜耐壓試驗(yàn)、發(fā)電機(jī)耐壓試驗(yàn)、變壓器感應(yīng)耐壓試驗(yàn)等。這些耐壓試驗(yàn)是電力行業(yè)的常規(guī)試驗(yàn)。系統(tǒng)，我們必須掌握它們。為了更好的進(jìn)行這些耐壓試驗(yàn)...

涂層測(cè)厚儀常見(jiàn)故障及處理方法涂層測(cè)厚儀是控制和保證產(chǎn)品bi不可少的檢測(cè)儀器。具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作方便等特點(diǎn)。它被廣泛應(yīng)用于許多領(lǐng)域。涂層測(cè)厚儀在使用中會(huì)出現(xiàn)一定的故障。下面小編就為大家詳細(xì)介紹一下涂層測(cè)厚儀的常見(jiàn)故障及處...

影響渦流測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003《非磁性金屬基材上非導(dǎo)電涂層厚度測(cè)量的渦流法》，以下因素會(huì)影響測(cè)量精度。1.覆蓋層厚度測(cè)量不確定度是渦流厚度測(cè)量方法所固有的。對(duì)于較薄的覆蓋層（例如，小于25μm），測(cè)量不確...

漆膜測(cè)厚儀最佳操作方法漆膜測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀或涂層測(cè)厚儀、測(cè)厚儀等。不同類型的測(cè)厚儀可以用磁法、渦流法、超聲波法、電解法測(cè)量涂層的厚度金屬基體表面的層通過(guò)該方法和輻射法檢測(cè)。不同的測(cè)厚儀使用原理不同，測(cè)量精度也不同。常用的便攜...

膜厚儀的使用步驟測(cè)量準(zhǔn)備(1)確保電池的正負(fù)極方向正確后再設(shè)置。(2)探頭選擇與設(shè)置：探頭有電磁式和渦流式兩種。對(duì)齊測(cè)量對(duì)象并將其設(shè)置在主體上。測(cè)量方法(1)探頭選擇及安裝方法：確保電源處于OFF狀態(tài)，接觸被測(cè)物的材料，安裝LEP-J或LH...

輪規(guī)濕膜測(cè)厚儀簡(jiǎn)介該儀器測(cè)量油漆和涂料的濕膜厚度。測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)：適用于建筑工地的濕膜厚度測(cè)量。輪規(guī)濕膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：■執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1764-79GB/T134522-92ISO2808-74■測(cè)量精度：15μm。輪規(guī)濕膜測(cè)厚儀注意事...

磁性測(cè)厚儀儀器相關(guān)概述磁性測(cè)厚儀概述磁性測(cè)厚儀采用一體式儀表結(jié)構(gòu)，單手即可操作。采用電磁感應(yīng)原理，適用于測(cè)量各種磁性金屬基材上非磁性覆蓋層的厚度可測(cè)量鋼上各種鍍層（鍍鎳除外）、鍍層、搪瓷、塑料等覆蓋層的厚度，也可用于測(cè)量各種金屬箔（如銅箔、...

涂鍍層測(cè)厚儀的原理及應(yīng)用涂層測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀。其原理如下：磁性測(cè)厚原理：當(dāng)探頭與涂層接觸時(shí)，霍爾發(fā)現(xiàn)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。由于非磁性覆蓋層的存在，磁路的磁阻發(fā)生變化，與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比。當(dāng)探頭...

測(cè)厚儀的操作方法測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料和物體厚度的儀器。在使用過(guò)程中，由于測(cè)量方法的不同，測(cè)厚儀分為多種類型，目前廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中。為了確保在測(cè)量過(guò)程中可以減少錯(cuò)誤和故障，需要正確的操作方法1、調(diào)零，即在特定調(diào)零板上調(diào)零，或在待測(cè)原基板上...